Superficie y contorno CNC profesional

Mahr MarSurf XP 20

Año de fabricación: 2002, Estado: usado, distancia x 210 mm Nlodpforxxc Hex Ac Esh distancia z 350 mm Carga máxima 25 kg Distancia eje C/Z (mm) 270 mm Diámetro máx. de ensayo (mm) 300 mm Eje de rotación C (plataforma giratoria) 0° 90° 180° 270 Diámetro de la plataforma giratoria 150 mm Recorrido de medición eje R 170 mm Espacio necesario aprox. L2,0 x An0,8 x Al0,82 m Volumen de suministro: - PROBADOR HOMMEL FORMA 1004 - Mesa de trabajo - Mesa giratoria (eje de rotación C) - Toda la documentación - Software TURBO FORM 8.21 + licencias - Accesorios (ver fotos) Estado: - Como nuevo - Funcional Mantenimiento: - Última inspección el 03/08/2021 - Informe de pruebas de Jenoptik disponible

Estado: como nuevo (artículo de exposición), Año de fabricación: 2024, horas de funcionamiento: 15 h, Instrumento de medición de perfiles preciso | Muy buen estado | Listo para su uso inmediato Se ofrece a la venta un Chotest SJ-5760P, un medidor de contornos de alta precisión para el análisis geométrico de perfiles en gestión de calidad, construcción de herramientas, ingeniería mecánica e investigación. El equipo proporciona mediciones exactas con gran libertad de movimiento y una base de granito estable. ⸻ Estado • Usado, revisado técnicamente • Totalmente funcional • Estado muy cuidado ⸻ Características técnicas destacadas – Chotest SJ-5760P Recorridos de ejes • Eje X: 0–200 mm • Eje Z: 0–450 mm • Dimensiones del equipo: 800 × 450 × 1100 mm • Peso: 220 kg ⸻ Medición de perfiles (SJ-5760P) • Rango de medición Z1: ±25 mm • Resolución: 0,001 µm • Sentido de medición: Arriba / Abajo • Velocidad de medición: 0,05–5 mm/s • Velocidad de posicionamiento: X/Z hasta 20 mm/s • Fuerza de medición: 10–150 mN, ajustable • Desviación de guiado: ≤1 µm / 200 mm Precisión • Error de lectura en X: ±(0,5 + 0,015L) µm • Error de lectura en Z1: ±(0,5 + 0,05H) µm • Distancia: ±(0,8 + 0,02L) µm Nledpex Db Stsfx Ac Esh • Radio: ≤(1 + R/15) µm • Ángulo: ≤±45’’ ⸻ Particularidades del equipo • Ideal para mediciones precisas de contornos y perfiles • Resolución vertical extremadamente alta (0,001 µm) • Base de granito muy estable para operaciones de medición con baja vibración • Amplios recorridos para geometrías de piezas versátiles • Tecnología de medición fácil de usar y fiable • Adecuado para mediciones de forma en el rango de micras tanto en laboratorio como en producción