Microdurómetro de pequeña carga

LECO LM - 100 AT Knoop Vickers

Estado: usado, Año de fabricación: 2014, Torno vertical CNC DMC DL 80V Año de construcción: 2014 Diámetro de giro de 800 mm. Longitud de giro de 750 mm. husillo de 30kw 2000rpm revólver 12 veces Forro de 21" Control Fanuc Oi-Td Peso de la máquina 9800 kg Con alimentador de virutas y accesorios estándar. Tsdpfx Afjvr Ecpsmsf

Estado: usado, Año de fabricación: 2008, Funcionalidad: totalmente funcional, rango de medición Eje X: 400 mm, rango de medición Eje Y: 500 mm, rango de medición eje Z: 300 mm, Visio 500 máquina de medición 3D óptica/táctil. Recorrido: 453 (400 X, 500 Y, 300 Z). Software de medición: PC-DMIS CAD versión 2015. Rack de cambio de palpadores de 6 posiciones, con un total de 2 módulos TESASTAR MP. PC silencioso Big Tower con Windows 7 (todo instalado y funcionando). Cámara con zoom óptico de 200 aumentos, con iluminación anular/luz coaxial y luz transmitida (diascópica). Todo completamente funcional. El eje Y presenta leves arañazos, ya pulidos. Esto no afecta el funcionamiento ni la precisión. Todpfx Ajiyymrofmsf

Estado: nuevo, Año de fabricación: 2023, Funcionalidad: totalmente funcional, recorrido eje X: 3,000 mm, recorrido del eje Y: 2,500 mm, recorrido del eje Z: 760 mm, avance rápido eje X: 20 m/min, avance rápido eje Y: 15 m/min, avance rápido eje Z: 15 m/min, peso de la pieza (máx.): 12,000 kg, altura total: 48,500 mm, longitud total: 85,800 mm, ancho total: 56,000 mm, ancho de la mesa: 2,400 mm, longitud de la mesa: 3,020 mm, peso total: 20 kg, velocidad del husillo (min.): 10 rpm, velocidad del cabezal (máx.): 6,000 rpm, distancia centro mesa a punta husillo: 960 mm, nariz del husillo: ISO 50, longitud de la herramienta: 350 mm, diámetro de la herramienta: 127 mm, Equipamiento: ajuste continuo de la velocidad de rotación, documentación / manual, Centro de mecanizado vertical de pórtico AWEA LP-3025 Tjdpfx Aforl Svromsf

Estado: muy bueno (usado), Año de fabricación: 1988, rango de trabajo del alambre: 0,1 - 1,3 mm longitud de corte: 5-70 mm salida: 400/min. Todo Syv Tepfx Afmjf con ciller y desbobinado motorizado

Estado: muy bueno (usado), ZEISS Tipo: DSM 962 El microscopio electrónico de barrido digitalizado DSM 962 está equipado con una memoria de imágenes integrada de 4 MB, un disco duro de 40 MB para el almacenamiento interno de imágenes y unidades para el almacenamiento externo de datos e imágenes. disco duro para el almacenamiento interno de imágenes y unidades para el almacenamiento externo de datos e imágenes. Esto permite obtener rápida y fácilmente información sobre la composición y la morfología de morfología de las superficies de las muestras hasta en el rango submicrométrico. Con gama de aumentos de 5x a 300.000x, es posible examinar tanto las macroestructuras como las microestructuras. como microestructuras. La gama de aplicaciones puede ampliarse considerablemente añadiendo accesorios especiales, lo que permite, por ejemplo es posible realizar investigaciones analíticas en microzonas de la superficie. El aparato puede manejarse tanto mediante elementos de conmutación convencionales como a través del teclado o el ratón (complemento). o ratón (complemento). La óptica de electrones y el control de vacío son convencionales. Funciones Las funciones de la memoria de imágenes se manejan mediante el teclado o el ratón (add-on). En el centro del panel frontal se encuentra una pantalla de información independiente para la visualización de los menús. Estas instrucciones de uso pretenden ser una guía para ayudar al usuario a conseguir los mejores resultados posibles con el aparato. resultados con el aparato. Las explicaciones se han mantenido lo más sencillas posible para que incluso un usuario menos experimentado usuario menos experimentado las herramientas necesarias. Gama de aumentos: de 20x a 300.000x a 7 mm de distancia de trabajo Etapas en una secuencia de 1-2-3-5-10 Aumento mínimo: 5x a 50 mm de distancia de trabajo Resolución: 4 nm - garantizada con cátodo de tungsteno a 30 kV, 6 mm de distancia de trabajo, muestra sin punta 25 nm - garantizada con cátodo de tungsteno a 1 kV, distancia de trabajo de 6 mm, muestra sin punta 3,5 nm - garantizado con cátodo LaB6 óptimo a 30 kV, distancia de trabajo de 6 mm, muestra sin puntas Volumen de suministro: (DSM 962 con accesorios como se muestra) Estado: usado (Sujeto a cambios y errores en los datos técnicos y especificaciones) Tsdpfxefcwwno Afmjf Por favor, pregunte por las opciones de transporte antes de comprar. Estaremos encantados de responder a sus preguntas por teléfono.

Estado: bueno (usado), número de máquina/vehículo: RTT HAU T3, Pulidora de mesa giratoria usada Fabricante: Hau Tjdsh Ug Uljpfx Afmsf mesa giratoria con 6 husillos de trabajo y 3 estaciones de pulido con pistolas de alta presión, motores de 5,5 kW, armario de control

Estado: reacondicionado (usado), número de máquina/vehículo: 1500/R, Mecanismo de carga con la prueba de fuerza 1-187.5 kg -Brinell 15.625 7 31.25 / 62,5 / 187.5 -Rockwell HRA / HRB / HRC Volumen de suministro: -Durómetro -Pantalla de enfoque -Fresnelllinse Tsdjdb E Tfspfx Afmof -Iluminador vertical -Rosca del husillo con sistema de alimentación -Iluminar - lente 70 X -Unidad de evaluación - sostenedor de la bola con la bola de Ø2, 5 mm Brinell -Diamante cono 120 º Rockwell -Plan Banco Ø80mm -Edición de prisma Ø80mm -Cable de Opcional: Software - BVMS (véase 3-rath.de)

Estado: muy bueno (usado), Aquí le ofrecemos un microscopio electrónico de barrido Jeol. Microscopio electrónico de barrido Jeol JSM-6490 (PC-SEM) Microscopio electrónico de barrido digital de última generación y alta resolución con óptica electrónica de nuevo desarrollo e intuitiva interfaz gráfica de usuario (GUI) bajo Microsoft WindowsXP Professional. Gama de aumentos: 5 X - 300.000 X Tensión de aceleración: 0,3 - 30 kV Cátodo de horquilla de tungsteno (cátodo LaB6 opcional) Amplia platina de muestra totalmente motorizada con inclinación excéntrica inclinación excéntrica, incl. Navegación gráfica en el portamuestras Fácil navegación de la muestra con zoom central Navegación controlada por campo de imagen mediante 2 navegadores Navegación por coordenadas relativas Guardado y reinicio de las posiciones de las muestras Movimiento blldschnittswelses ajustable de la platina de muestras Corrección del campo durante la rotación mediante rotación eucéntrica rotación excéntrica Corrección del campo de imagen durante la inclinación mediante inclinación eucéntrica controlada por ordenador inclinación eucéntrica controlada por ordenador Cálculo del ángulo de inclinación posible en función de la geometría de la muestra seguimiento automático del enfoque al mover la muestra en muestra en el eje Z Finales de carrera inteligentes para los ejes motorizados Recorrido de la platina de la muestra x=125mm Y=100 mm z= 5 a 80 mm (continuo) T= -10°C a+ 90°C R= 360°C (sin fin) Detector de electrones secundario para funcionamiento en alto vacío Todpfx Afsmn Rcqemsf Novedosa lente objetivo supercónica que garantiza la máxima resolución de imagen incluso con grandes ángulos de inclinación Resolución garantizada En la imagen SE: 3 nm a 30 kV y 15 nm a 1 kV Visualización simultánea de imágenes en directo de varios detectores Fácil navegación por la muestra con el Cllck Centre Zoom Potentes funciones de medición de imágenes Función de vídeo para grabar procesos dinámicos Cámara de muestras versátil con numerosas bridas libres, por ejemplo, para EDX, WDX EBSD, catodoluminiscencia, etc. Sistema de bombeo silencioso de bajo mantenimiento y desgaste compuesto por bomba de apoyo, bomba de difusión de alta elasticidad sin vibraciones y control electromagnético de la válvula Amplia protección contra errores de funcionamiento y fallos de los medios externos Mesa del sistema ergonómica y regulable en altura Kit de inicio REM compuesto por 2 portamuestras juego de herramientas y 6 cátodos de repuesto Equipamiento adicional 2x ΜΡ-43100 (TMP) Bomba turbomolecular en lugar de la bomba de difusión estándar Cuando se utiliza una bomba turbomolecular, ya no se no se necesita más agua de refrigeración para el funcionamiento del SEM. Más equipamiento: PC para el control del SEM incl. monitor TFT ΟΧ200 Sistema EDX Bruker Quantax 200 EXTENDED Sistema de análisis por energía dispersiva de rayos X sin nitrógeno. incl: Detector SDD con 127 eV o mejor resolución de energía. Detección de todos los elementos a partir del boro. Sin vibraciones, sin mantenimiento. Refrigeración Peltier (sin nitrógeno) Procesador de impulsos Monitor TFT Medición de espectros y descomposición elemental Análisis elemental totalmente automático, cuantitativo y análisis elemental Adquisición de imágenes LIneScan cualitativo superrápido Mapeo cualitativo superrápido de elementos Sistema de gestión y archivo de datos Generación de informes y salida de resultados Comunicación de datos Instalación y formación HyperMap Análisis multipunto Detector Bruk

Estado: reacondicionado (usado), Rangos de medición X/Y/Z = 900 x 1200 x 850mm Incertidumbre de medición 4,0 + 4,5L/1000 (en estado original, actualmente mucho mejor tras la modernización) Tjdpsdpak Refx Afmjf Completamente modernizado en 2018 con el controlador Pantec Eagle Pro Sonda de contacto Renishaw PH10MQ con SP25M Software completamente nuevo Inca Premium (otros a petición) PC Estación de trabajo HP Opcional : Escáner láser (por ejemplo, Kreon) Cambiador de sondas Mesa giratoria, etc.

Estado: usado, Datos técnicos Fabricantes: Leitz Peso de pieza máximo: 1400 kg máquina. Cambio de botón Máxima desviación admisible Según DIN EN ISO 10360: MPEE = 0, 8 μm + 2, 5 μm/m < 6, 0µm MPEP = 1, 0µm Rango de medición X = 1800 mm Y = 1000 mm Z = 600 mm La máquina puede actualizarse a especificación del cliente con el nuevo software. Precio: A petición! ¡Instalación y puesta en marcha posible! ¡Podemos hacer una oferta detallada! Nota: Nuestra oferta es dirigida exclusivamente a profesionales! Todeddtufspfx Afmef (Cambios y errores en los datos técnicos, información y precios y sujeto a venta previa!)